测试数据和测试功耗是集成电路测试时关注的两个主要问题.为缩减测试数据体积和降低测试功耗,提出了一种基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法.这种方法在保持压缩率不变的前提下,充分利用MUXs网络中"空闲"的测试通道来降低测试功耗.在降低测试功耗原则的指导下,将一些"有用"的测试通道进行拆分,即将这些"有用"通道驱动的一部分扫描链改由"空闲"的通道来驱动.提出了怎样选择通道,怎样将选择的通道进行拆分方法.实验结果表明建议的方法有效降低了测试时的平均功耗和峰值功耗.
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