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摘要
随着集成电路技术的飞速发展,SRAM的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛的重视和研究。简要介绍了SRAM的重要组成部分,提出了一种ATE对SRAM测试的方法。SRAM的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。以IS61LV51216-10TLI为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要论述了SRAM功能及交流参数的测试关键技术及其注意事项。
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单位中国电子科技集团公司第五十八研究所
