二极管反向恢复时间多档测试技术

作者：吴晓华; 韦文生^*; 曲金星; 莫越达; 罗飞

来源：实验室研究与探索, 2021, 40(09): 34-75.

DOI：10.19927/j.cnki.syyt.2021.09.008

• 二极管
• 反向恢复时间
• 多档测试
• 发射极耦合逻辑电路

反向恢复时间Trr是衡量二极管等器件反向恢复特性最重要的参数。针对当前Trr测试仪无法同时满足不同的测试要求,且Trr测量下限大多为20 ns及以上的问题,研制了符合4种要求(分为4档)、数字化显示Trr值的测试装置。利用选择开关构建多档电路,组合不同的正向电流IF脉冲、反向电压UR脉冲加载于被测二极管DUT,产生反向恢复信号。设计发射极耦合逻辑电路形成电压比较器,将该信号变成宽度为Trr的脉冲;使用模/数转换器将其转换为Trr值并驱动发光二极管显示出来,二极管Trr的测量下限可达15 ns。采用本装置的4个档位分别测试了3种二极管,显示的Trr值与示波器的测量值基本吻合,验证了设计的可行性。不仅可以作为综合创新型教学设计案例,还能满足部分企业需求。

• 单位
  温州大学; 电子工程学院