超声扫描检测技术在半导体封装中的实践探讨

作者：彭强

来源：电子测试, 2018, (08): 94.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2018.08.046

• 超声扫描检测技术
• 半导体
• 封装
• 应用

本文结合超声扫描检测技术的原理和优势,对其在半导体封装检测中的实践应用进行了讨论。

• 单位
  汕尾职业技术学院