科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
针对包装质量检测精度易受外界光照影响的问题,在已有基于梯度幅值相似性的缺陷检测算法基础上,将局部二值模式算子引入到该算法中,提出了一种基于改进梯度幅值相似性的缺陷检测算法。该算法利用局部二值模式算子的旋转不变性和灰度不变性的特点,并将其与图像的梯度幅值特征进行融合后用于包装的缺陷检测中,提升了缺陷检测算法对光照的鲁棒性。实验结果表明,相比传统梯度幅值缺陷检测算法,该算法具有更好的抗光照影响能力,并且对于不同光照情况下的包装缺陷,该算法的检测准确率可达96.57%。因而,该算法能够被广泛地用于包装缺陷检测中,提高缺陷检测的精度。
- 单位
