科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
长度测量作为几何量测量关键共性基础技术之一，在科学研究、高端装备制造及空间探测等领域有着重要的应用。双光梳绝对测距技术充分发挥了光学频率梳的时域超短脉冲和频域高分辨特性，实现了高测量速率的绝对距离测量。目前双光梳测距存在测量范围小、测量精度低的问题，为解决此问题，提出了一种基于双光梳测距技术与相位测距技术相结合的方案，采用双光梳测距技术实现非模糊距离范围内长度的高精度测量，利用相位测距技术实现非模糊距离整数倍测量及指示功能，作为双光梳测距高精度测量的有效补充。搭建实验系统对该方案的可行性进行验证，结果表明在0～70 m的测量范围内，测量误差小于±5μm。
-
单位中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
