基于目标跟踪的IPMC测控系统设计

作者:范敏; 于敏; 李宏凯; 尹国校
来源:机械制造与自动化, 2020, 49(03): 159-191.
DOI:10.19344/j.cnki.issn1671-5276.2020.03.043

摘要

针对IPMC驱动和性能测试的需求,设计了一种IPMC测控系统。控制系统以STM32F103RET6为主控芯片,可输出双极性大电流的正弦波、方波和组合波形,并且输出信号的幅值、频率和占空比可调;位移检测系统基于Lab VIEW的MeanShift目标跟踪算法,可对IPMC末端进行目标跟踪,并实时显示其在两个方向上的位移。利用该测控系统进行IPMC性能测试实验,验证了其可行性。

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