摘要
基于高次谐波的特性,在上海光源X光学测试线分别进行了吸收谱、成像和衍射相关检测实验,拓展了在线检测中同步辐射的光谱范围和应用场景。利用元素Se的K吸收边对光子能量为12.658 keV高次谐波进行测量,实现了Si(111)双晶单色器4.219 keV能量下限的标定;利用Si(111)晶体的光子能量12 keV高次谐波的衍射成像,研究了晶体热形变引起的Si(333)晶格面衍射的光斑畸变现象;利用双晶单色器出射的光子能量为60keV的高次谐波,完成了对Si(111)高能劳厄晶体摇摆曲线的测量。
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单位中国科学院上海高等研究院; 上海光源