基于时间序列DTW差异的IGBT模块缺陷辨识方法

作者：周生奇; 周雒维; 孙鹏菊

来源：重庆大学学报, 2013, (09): 89-95.

• 缺陷
• 绝缘栅双极型晶体管
• 动态时间弯曲
• 时间序列 defect
• insulated gate bipolar transistor(IGBT)
• dynamic time warping(DTW)
• time series

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块是电力电子装置中关键可靠性敏感元件之一,辨识IGBT模块缺陷,是避免突发故障,增强电力电子装置可靠运行的重要举措之一。为此,笔者提出一种基于时间序列动态时间弯曲(DTW)差异的IGBT模块早期缺陷的诊断方法。该方法利用缺陷对IGBT模块门极寄生参数的影响,通过分析缺陷前后,门极电压信号序列DTW的差异,判断IGBT模块内部是否存在缺陷。实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性。

• 单位
  重庆大学; 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室