火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用

作者：吴振; 喻能利; 蔡璐; 李永武; 嵇龙; 沈广强

来源：冶金分析, 2019, 39(01): 59-63.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010430

• 火花放电原子发射光谱法
• 高含量硅
• 校准曲线
• 扩展
• 干扰校正

火花放电原子发射光谱仪分析高含量Si(w(Si)≥3.0%)时,其元素含量已超出了校准曲线的线性范围,导致分析值偏低。实验通过增加中低合金钢、硅钢标准样品,完善并扩展了Si校准曲线,完成了共存元素的干扰校正,拓宽了Si元素的分析范围,质量分数上限由3.14%扩展至4.16%,线性相关系数达0.99965。校准曲线扩展后重新选择标准化样品进行漂移校正,校准曲线强度比由9.41扩展至11.01。对扩展含量段的两个样品(w(Si)≥3.0%)进行精密度考察,结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.43%和0.50%;对比了8个不同Si含量的样品,发现完善、扩展后校准曲线的Si测定值与认定值更相符;同时统计过程控制(SPC)控制图处于受控状态。可见校准曲线经完善、扩展后可满足工艺过程控制和成品分析要求。

• 单位
  马鞍山钢铁股份有限公司