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摘要
通过参考镀铬板的检测方法，对比了X荧光法和分光光度法测量71钝化镀锡板表面铬中氧化铬层和金属铬层的含量。两种方法在测量氧化铬时没有差异，在测量金属铬时有系统偏差，这是因为两种方法的剥离方式不同。通过GDS和SEM的分析表明，镀锡基板表面有铬元素富集，这是两种方法测定金属铬时存在差异的根本原因。X荧光法改用稀盐酸剥离金属铬层5 min,能有效避免基板表面的铬量影响，与分光光度法得到一致结果。
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通过参考镀铬板的检测方法，对比了X荧光法和分光光度法测量71钝化镀锡板表面铬中氧化铬层和金属铬层的含量。两种方法在测量氧化铬时没有差异，在测量金属铬时有系统偏差，这是因为两种方法的剥离方式不同。通过GDS和SEM的分析表明，镀锡基板表面有铬元素富集，这是两种方法测定金属铬时存在差异的根本原因。X荧光法改用稀盐酸剥离金属铬层5 min,能有效避免基板表面的铬量影响，与分光光度法得到一致结果。
