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摘要
设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容。本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,为设备在研制阶段的测试性设计提供参考。
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设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容。本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,为设备在研制阶段的测试性设计提供参考。
