CH_3自由基的v_2和v_3基带在高温下的谱线强度

作者：郭勤学; 程新路

来源：四川大学学报(自然科学版), 2010, (02): 335-339.

• CH_3自由基
• 密度泛函理论
• 线强度 CH_3 radical
• density functional theory
• line intensities

采用密度泛函理论(DFT)的B3P86方法,在6-311G~(**)基组水平上,优化出CH_3自由基的稳定构型为双重态D_(3h)构型,并得出基态的简正振动频率、转动常数.在此基础上,根据对称陀螺分子红外光谱跃迁定则,计算了谱线跃迁频率.使用以上数据,我们研究了不同温度下CH_3自由基v_2平行谱带谱线强度,并分析了谱线强度随温度的变化规律.结果表明直到1600K时,谱线强度计算值和实验结果符合很好.表明对CH_3自由基在高温下谱线强度的计算方法是成功的.进而计算了CH_3自由基在2000和3000 K时v_2谱带谱线强度及模拟光谱,并总结其光谱精细结构随温度变化的规律.同时本文也给出了CH_...

• 单位
  四川大学