基于MCU的可测性设计与实现

作者：张键; 鲍宜鹏

来源：电子与封装, 2021, 21(01): 76-80.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0111

• MCU芯片
• 可测性设计
• 测试资源复用
• 测试成本
• 测试方法

随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难。介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32F0XX芯片的测试向量产生及整体测试。