摘要
针对DCS可靠性数据少,样本少,难以获得的特点,基于研发的DCS各系统可靠性监测系统,获取设备运行的特有样本数据,对寿命服从指数分布的I/O卡件,运用贝叶斯方法分析其故障率。利用共轭分布法选取先验分布;采用先验矩的方法估计先验分布的超参数;利用伽玛分布性质进行指数分布故障率的估计,修正I/O卡件的故障率。算例分析表明,该方法求取I/O卡件故障率具有可行性。
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针对DCS可靠性数据少,样本少,难以获得的特点,基于研发的DCS各系统可靠性监测系统,获取设备运行的特有样本数据,对寿命服从指数分布的I/O卡件,运用贝叶斯方法分析其故障率。利用共轭分布法选取先验分布;采用先验矩的方法估计先验分布的超参数;利用伽玛分布性质进行指数分布故障率的估计,修正I/O卡件的故障率。算例分析表明,该方法求取I/O卡件故障率具有可行性。