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摘要
本文通过薄片鉴定、扫描电镜、X衍射等技术分析方法,对研究区X储层的地质特征及储层物性进行了系统的分析,并对影响研究区储层地质特征的因素进行了研究。结果表明,研究区属于典型的低孔低渗储层。压实作用、胶结作用及溶蚀作用、压溶作用是影响研究区储层物性的主要因素。
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本文通过薄片鉴定、扫描电镜、X衍射等技术分析方法,对研究区X储层的地质特征及储层物性进行了系统的分析,并对影响研究区储层地质特征的因素进行了研究。结果表明,研究区属于典型的低孔低渗储层。压实作用、胶结作用及溶蚀作用、压溶作用是影响研究区储层物性的主要因素。
