摘要

在低能X射线成像中,荧光串扰是影响光纤耦合电荷耦合器件(CCD)/互补金属氧化物半导体(CMOS)型高分辨平板探测器空间分辨率的主要因素。基于界面全反射对荧光串扰的抑制作用,提出一种双层结构高分辨闪烁屏。双层闪烁层间通过低折射率耦合介质耦合,调节耦合介质折射率可控制上层闪烁屏与耦合介质界面间可输出的荧光角度,达到抑制荧光串扰、提升闪烁屏探测空间分辨率的目的。基于点扩散函数理论的仿真结果表明,与同等厚度的单层闪烁屏相比,所提双层结构闪烁屏可实现更高的空间分辨率。X射线成像实验结果进一步验证了应用双层结构闪烁屏对提升探测器空间分辨率的有效性。