采用基于密度泛函理论的第一性原理计算,研究了二维过渡金属磷系化合物M_n Tn+1 (M=V, Cr;T=P, As, Sb)材料的结构、稳定性、电子结构和磁性质.通过计算形成能和声子谱,发现只有V4As5、Cr2P3、 Cr3P4、 Cr4P5、 Cr2As3和Cr3As4是稳定的二维磁性多层膜.计算结果表明,这些稳定的二维磁性材料都是反铁磁金属.此外,还对这些材料的电子结构和磁耦合机制做了进一步的分析.