基于单片机的集成芯片测试仪设计

作者：刘隽晖; 贾静^*; **; 赵艳丽

来源：电子测试, 2021, (24): 28-29.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2021.24.009

• 测试仪
• 单片机
• 74系列芯片

系统以AT89S52单片机为核心,由LED数码管显示电路、测试电路和5V直流电源等模块组成。系统以高校实验环节常用的74系列芯片为例,根据芯片真值表编写程序到单片机内。利用测试仪检测芯片能否正常工作,并通过LED数码管显示测试结果。测试结果表明,该系统能够准确辨别出芯片质量。

• 单位
  营口理工学院