航空电子设备大气辐射环境的危害影响分析

作者：陈宇; 李明; 傅耘

来源：装备环境工程, 2019, 16(09): 109-112.

• 航空电子设备
• 大气辐射
• 中子
• 中子诱发的单粒子效应
• 软错误率

目的调查航空电子设备在典型民用飞行高度(8 000～12 000 m)下大气辐射环境的危害影响。方法利用14 MeV高能中子源对航空电子设备用CPU、DSP、FPGA及存储器开展了辐照试验,获取了各试件的单粒子效应敏感特性,采用民航高度下大气中子注量率的典型值6000n/(cm2·s),预计典型航空电子设备在巡航高度下可能发生的软错误率。结果约900h内,该航空电子设备会由于大气辐射单粒子效应诱发一次错误。结论在不采取针对性防护措施的前提下,大气中子诱发的单粒子效应将严重影响航空电子设备可靠性、维修性,甚至危及飞行安全。