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摘要
齐纳二极管常作为基准电压元件,为电路提供线性稳压电源,该固定电压与电源电压、负载和时间变化等无关,因而被广泛地应用于集成电路产品设计中。针对模拟集成电路早期失效案例进行分析,通过失效分析方法,定位该故障是由于齐纳二极管经历一定温度、时间的老炼试验后,表现出早期失效,击穿电压漂移所导致的;同时通过样品在不同条件下的试验情况,分析温度、电应力对齐纳二极管早期失效及产品可靠性的影响,并提出了选用齐纳二极管时的注意事项。
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单位中国电子科技集团公司第二十四研究所
