图像处理方法在研究纳米薄膜试片腐蚀特性中的应用

作者：庞宁; 黄华; 吴来明; 陈建民; 齐春

来源：文物保护与考古科学, 2009, 21(z1): 53-59.

DOI：10.3969/j.issn.1005-1538.2009.z1.011

• 藏展材料评估筛选
• 纳米薄膜试片
• K均值聚类算法
• 图像检测

采用纳米薄膜试片代替块状金属试片,可以有效的解决藏展材料评估筛选中的测试周期长,误差大的问题,对薄膜试片进行数据化分析则可以避免人为主观判断的影响.本工作首先对圆形的薄膜试片进行检测,然后采用基于K均值聚类的图像分割算法对试片图像进行分割,得到试片被腐蚀的面积比例,同时与人工观察的试片腐蚀程度进行比较判断.结果显示,本方法可以有效的对薄膜试片的腐蚀程度进行数据化评判,从而能够较为客观准确的对材料进行评估筛选.

• 单位
  西安交通大学; 国家文物局; 复旦大学; 上海博物馆