T/R组件测试系统的波控技术研究与实现

作者：俞利国; 张强; 蒋鹏

来源：现代信息科技, 2019, 3(16): 46-50.

• PCIe
• 波控技术
• T/R组件测试系统
• 覆盖率

为了实现T/R组件测试系统波束控制的通用性,提出了一种基于PCIe总线的可编程模块化的波控技术。该技术应用到测试系统里可对不同类型的T/R组件进行灵活控制,模拟相控阵波束扫描方式进行性能测试,可有效地提高T/R组件的测试效率和覆盖率。