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摘要
提出了一种电子设备抗强射频干扰门限的确定方法,并设计了电磁干扰路径中前/后门耦合的验证实验,建立了设备性能参量与电磁环境的关系式,进而由设备性能要求门限确定强射频电磁环境中电子设备的抗干扰门限,证明了该方法的有效性和正确性。降低了试验室电磁环境模拟的要求,可为GJB 1389A-2005中电子设备敏感机理以及环境限值意义等的研究提供借鉴。
- 单位
提出了一种电子设备抗强射频干扰门限的确定方法,并设计了电磁干扰路径中前/后门耦合的验证实验,建立了设备性能参量与电磁环境的关系式,进而由设备性能要求门限确定强射频电磁环境中电子设备的抗干扰门限,证明了该方法的有效性和正确性。降低了试验室电磁环境模拟的要求,可为GJB 1389A-2005中电子设备敏感机理以及环境限值意义等的研究提供借鉴。
