摘要

目前黏滞阻尼器在进行产品检测中经常会遇到间隙的问题:即黏滞阻尼器产品在小位移(0.1、0.2倍设计位移)往复运动时,耗能性能远远小于设计位移作用下得到的滞回面积的30%以上,并不满足规范的±15%要求。本文研究主要内容:分析间隙产生的原因及其影响,采用数值模拟的方法在SAP2000中建立有限元分析模型,并且选取了一框架结构模型模拟黏滞阻尼器在多遇地震和罕遇地震作用下,分析不同的间隙对其滞回耗能的影响。结果表明:在间隙一定的情况下,多遇地震作用下间隙对黏滞阻尼器耗能能力的影响远大于罕遇地震。