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摘要
本发明涉及射频模拟电路故障诊断技术,特别是一种基于SVM和HMM的射频模拟电路故障诊断方法,该方法用针对ATF54143为核心的低噪声放大器电路,提取出有效的故障特征信息,对数据特征进行处理,其中包含K-Means算法和支持向量机的结合,减少了HMM的训练时间,解决了HMM在训练过程中对小样本数据在确定最相似模型比较最大似然概率时,有可能出现最大似然概率过于相近或相等存在的误判风险,支持向量机适合处理分类,能够最大程度反映出类别差异。K-Means的引入旨在于对实验数据进行聚类,形成有标签类别的数据,然后放入支持向量机模型,进行更精确的分类。
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