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摘要
本发明公开了一种基于单波滤光的托卡马克装置偏滤器靶板温度测量方法,涉及红外测温及磁约束核聚变技术领域,本发明先拟合出被测对象发出的辐射能与热像仪测得的辐射能在波长λ-0下的关系式,再拟合出在波长λ-0下偏滤器靶板温度和发射率的关系式,最后在托卡马克装置放电过程中利用热像仪测得图像的灰度值计算出此时偏滤器靶板的真实温度；本发明使用了单波滤光片,减少了波长范围对测温精度的影响,同时也考虑到了滤光片的透光系数、辐射在特制光路中的衰减以及托卡马克装置的不同温度情况,使用非线性模型拟合温度与发射率之间的关系,拟合结果相比线性模型和常数模型更加精确。
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