超高技术指标超声波双晶分隔探头的研制

作者：吴来政; 万升云; 邬结文

来源：无损探伤, 2018, 42(04): 33-35.

DOI：10.13689/j.cnki.cn21-1230/th.2018.04.009

• 双晶片分隔
• 超高技术指标
• 距离-波幅曲线
• 抗扰始波高度

介绍了新近研发的双晶分隔式超声波探头,改变了传统技术制造的思路,突破了技术指标的瓶颈。该探头在2mm3mm薄板和50mm60mm的中厚板需要在同一工况下检测,以及厚板从上表面到下表面在同一工况下检测中,其灵敏度波动不超过6dB且抗扰始波高度大于40dB,其指标领先国内外技术水平。