高可靠元器件特征结构识别与表征技术

作者：龚欣; 李婷; 孙佳佳; 陈旭光; 倪晓亮

来源：电子元器件与信息技术, 2021, 5(11): 21-22.

DOI：10.19772/j.cnki.2096-4455.2021.11.010

• 高可靠
• 元器件
• 特征结构

开展高可靠元器件特征结构识别与表征技术研究，将高可靠元器件特征结构进行识别并提取，建立高可靠元器件特征结构数据库，集成派生新研元器件的设计方案和评价判据，解决国产元器件尤其是自主研发新型元器件普遍存在的“设计及工艺能力有限、设计参考缺失、可靠性评价缺乏权威性”的技术问题。

• 单位
  中国空间技术研究院