220kVGIS用花键轴质量检测方法研究

作者:王建伟; 马博; 王光明; 杜攀峰; 郭锐
来源:无损探伤, 2019, 43(06): 41-43.
DOI:10.13689/j.cnki.cn21-1230/th.2019.06.013

摘要

通过理化分析找出220kVGIS用Φ30直径40Cr13花键轴开裂原因,使用超声波检测(UT)、相控阵超声检测(PA)、X射线探伤(RT)、渗透检测(PT)方法对花键轴进行了检测,并对4种检测方法的检测结果进行汇总、对比和分析。结果表明:UT和PA采用实物工件进行灵敏度校验的方法对Φ30直径40Cr13花键轴内部缺陷的定位和定量切实有效且结果一致。