一种集成稳压器的失效机理分析

作者：廉鹏飞; 刘楠; 孔泽斌; 吉裕晖; 陈萝娜

来源：半导体技术, 2018, 43(11): 869-875.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2018.11.012

• 集成稳压器
• 失效
• 过热保护
• 过电应力
• 电迁移

对一种集成稳压器的失效问题进行了研究并分析了失效机理。通过内部目检、微光分析、扫描电镜及能谱分析,定位了集成稳压器的失效点。采用仿真和实验分别对稳压器的失效原因进行了分析和验证,搭建了输出端到公共端存在电流通路的等效电路,计算并仿真了等效电路的I-V模型,测试结果表明,仿真I-V特性曲线与实际I-V特性曲线高度一致。通过复现试验,确认了导致稳压器失效的原因是输入端的高能量外部过电应力致使过热保护管开启,并在过流与过热的条件下产生与电流方向一致的电迁移痕迹,从而使过热保护管的集电极和发射极短路,引发稳压器失效。