双路扫描式激光测径仪系统设计

作者：康志远; 龙威; 唐立军; 吴定祥^*

来源：测控技术, 2019, 38(05): 72-76.

DOI：10.19708/j.ckjs.2019.05.016

• 激光测径
• ARM+FPGA
• 双路扫描
• 标准棒法

针对企业对小型零部件生产线上的工件线径检测精度和稳定性问题,研制了一款基于ARM+FPG A的双路扫描式激光测径系统,用于解决扁平形漆包线线径的精确测量问题。该测径系统采用标准棒法测量原理,运用累加求和取平均值的处理算法,实现了工件线径的厚度和宽度双向检测,克服了单路激光测径系统测量范围受限等缺点。实验结果表明,该测径仪精度可达到0.001 mm,示值误差不超过±0.005 mm,稳定性能好,测量精度高,适合于生产线上小尺寸工件线径的精度检测。由于FPGA的快速数据处理能力,本系统特别适用于动态线材的尺寸监测。

• 单位
  五凌电力有限公司; 长沙理工大学