对800H激光焊接接头进行了不同温度及不同保温时间的热处理,采用电化学双环动电位再活化法测试了不同热处理后焊接接头的晶间腐蚀敏感性,采用晶间线扫的方法解释晶间腐蚀机理,以及采用丝束阵列电极的方法对800H焊接接头焊缝区、热影响区、母材区进行了双环动电位再活化试验。结果表明:800H焊接接头抗晶间腐蚀能力随着热处理温度的升高先降低后增加,并在750℃时降到最低,在850℃以后趋于稳定;焊缝区抗晶间腐蚀能力最强,其次为母材区,抗晶间腐蚀能力最弱的是热影响区。