用于GaN HEMT栅驱动芯片的高性能过温保护电路

作者:李亮; 周德金; 黄伟; 陈珍海
来源:微电子学与计算机, 2023, (03): 93-98.
DOI:10.19304/J.ISSN1000-7180.2022.0324

摘要

设计了一种用于GaN HEMT器件栅驱动芯片的高性能温度保护电路,能精确响应并输出保护信号以确保电路安全.过温保护采用两路温度检测电路来采集温度信号电压值并对电压差值进行放大,比较滤波后经过具有滞回功能的施密特触发器输出整形保护信号,可以克服共模噪声和温度应力的影响.基于CSMC 0.18μm BCD工艺,完成了电路设计验证与测试,结果显示电路功能正确,可满足GaN HEMT器件栅驱动芯片应用要求.

  • 单位
    黄山学院; 苏州市职业大学; 复旦大学; 电子信息工程学院; 清华大学无锡应用技术研究院

全文