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摘要
某导电滑环产品在测试过程中存在接触电阻异常增大的问题，显微镜观察其表面存在异常的黑色磨屑。为了深入分析黑色磨屑的化学成分，揭示其污染源头，本文应用纳米红外技术（AFM-IR）研究黑色磨屑的化学成分，探讨了AFM-IR技术在航天产品非金属多余物的化学成分分析研究方法。研究结果表明：利用AFM-IR技术可以实现原位状态下对黑色磨屑的化学组成进行分析，突破了传统红外光谱技术的衍射极限，获得了纳米级的红外光谱；确定了污染最大可能来源于某绝缘胶带，并采用污染复现试验，使问题得到复现；进一步采用清洗试验对生产过程进行改进，避免了有机物污染的问题，提高了导电滑环产品的质量。
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