摘要

目的:建立不同厚度饰瓷与基底瓷双层结构的后牙三单位全瓷桥有限元模型,分析饰瓷与基底瓷厚度对全瓷桥残余应力的分布及其影响。方法:使用WIELAND ZENOTEC Scan对上颌后牙三单位固定桥基牙标准模型进行三维光学扫描,在上述模型基础上通过WIELAND ZENOTEC Cad;Geomagic;CATIA构建三组不同厚度饰瓷与基底瓷双层结构后牙三单位全瓷桥实体模型,将模型导入ABAQUS6.10有限元软件,分析修复体从575℃降至室温25℃过程中残余应力的形成及分布。结果:全瓷修复体残余应力主要分布在饰瓷与基底瓷结合界面处,其中冠边缘、连接体处修饰瓷分布较薄的部位界面处残余应力较为集中,而...