基于LK8810S平台的数字集成电路测试

作者：陈梅芬; 陈瑞森; 李伟权; 吴沁

来源：集成电路应用, 2022, 39(06): 41-43.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2022.06.015

• 集成电路测试
• 逻辑功能测试
• 静态电流测试

阐述基于LK8810S平台的数字集成电路测试技术，它对典型数字芯片74HC595测试，包括开路、短路、直流参数、逻辑功能进行测试，测试结果表明，此测试方案准确有效。

• 单位
  厦门海洋职业技术学院