X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究

作者：江鹏飞^*; 袁文瓒; 魏存峰; 陈旭; 阙介民

来源：中国陶瓷, 2018, 54(10): 73-78.

DOI：10.16521/j.cnki.issn.1001-9642.2018.10.013

• X射线透视
• 陶瓷艺术品
• 鉴证溯源

陶瓷艺术品在成型和烧结过程中受物理化学变化的影响,即使是同一窑炉烧制且同一外形的两件陶瓷艺术品,封闭在胎中的气孔、微裂纹等内部微观结构都各不相同,且这种随机形成的特征不可复制,具有唯一性。X射线透视成像技术可以将陶瓷艺术品这种唯一性结构特征以二维投影的形式显现,并作为单个陶瓷艺术品的身份标识,通过对比这些身份标识即可对陶瓷艺术品进行质量溯源。研究通过采集陶瓷艺术品样本进行X射线透视分析,对比二维透视图像的特征,确定为陶瓷艺术品唯一性身份,并进行二次验证确认。该方法相比X-CT分析技术,可以更为快速的采集无底款、纹饰等空间定位信息的陶瓷艺术品内部结构唯一性特征,且检测条件简单,设备成本较低,具有良好的应用前景。

• 单位
  中国科学院高能物理研究所; 景德镇市检验检疫科学技术研究院; 景德镇市竑达大数据技术有限公司