机床指示与测量系统技术综述

作者：杨晓

来源：科技风, 2019, (14): 154.

DOI：10.19392/j.cnki.1671-7341.201914134

• 指示
• 测量系统
• 专利分析

利用VEN数据库,以筛选得出的数控机床指示与测量系统专利文献为基础,从申请量,申请人,关键技术等方面进行统计分析,并举典型专利对具体技术分支进行阐述。

• 单位
  国家知识产权局