设计了集成电路芯片测试设备机械手的速度测量装置,考虑了机械手运动过程中的振动以及气缸轴老化、端部生锈所造成的运动速度与行程不稳定因素。根据测控参数对设备进行精确的调整,巧妙地解决了测试设备机械手运动速度与行程控制不良所引发的芯片失效问题,有效地降低了芯片的废品率。