基于DOE方法的Mura检查机检出率提升研究与应用

作者：盛大德; 王立夫; 庞华山; 武占英; 毛继禹

来源：电子世界, 2018, (06): 21-24.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2018.06.006

• DOE
• Mura检查机
• 检出率提升

本文以8.5G CF面板为基础,将试验设计(DOE)方法学应用于Mura检查机检出率提升项目中。试验方案基于先进的DOE理论,以数学建模、计算机辅助建模为基础,采用自编试验设计程序、建模算法及优化程序等进行合理计算[1]。通过实验测试,DOE方法能够缩短整体实验时间,达到理想的设备参数设定效果。

• 单位
  北京京东方显示技术有限公司