国外电子元器件可靠性数据及其计算模型分析

作者：郑丽香; 徐洁芬; 于迪; 雷庭

来源：电子元器件与信息技术, 2020, 4(06): 9-11.

DOI：10.19772/j.cnki.2096-4455.2020.6.004

• 元器件
• 可靠性数据
• 计算模型

针对当前国内元器件可靠性数据不齐全的现状,对国外主流元器件制造商TI、AD以及Xilinx进行研究,分析其发布的元器件相关可靠性数据类型、检索模式及计算模型,同时对国外典型类型产品可靠性水平进行分析,为国产元器件可靠性数据建设提供参考。

• 单位
  工业和信息化部电子第五研究所