应用泰伯效应进行光学测量的研究进展

作者：刘婷婷; 孙海滨

来源：激光杂志, 2018, 39(11): 34-38.

DOI：10.14016/j.cnki.jgzz.2018.11.034

• 光学测量
• 泰伯效应
• 自成像

当平面光通过一个光栅或者其他周期性物体时,在泰伯面上会出现自成像现象。衍射自成像已经在实验和理论研究领域产生了大量的成果。泰伯效应不仅在光学领域,而且在声学,量子光刻,等离子体激元,X射线和波导等研究领域也有应用。泰伯效应在光学测量领域的应用取得了长足的进展。主要介绍了泰伯效应在光学测量领域的研究进展,包括应用泰伯效应进行的位移和距离测量,物体形貌和表面粗糙度测量,以及涡旋光束拓扑荷的测量。泰伯效应在其他领域也有着良好的潜在应用前景。

• 单位
  电子工程学院; 泰山学院