基于单片机的光感芯片光学性能测试系统

作者：钟耿

来源：电子测试, 2020, (11): 31-32.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.11.011

• 单片机
• 测试系统
• 环境光感测芯片

光学性能是评估光感芯片的功能与质量的重要指标,光谱仪的测试是一般的方法。以单步单色仪进行光谱响应测试,需要人工调整波长间隔并机械点击鼠标,工作量较大且易出错。本文以单片机驱动芯片,VB建立数据接收系统,控制信号传输间隔,有效的提高测试效率。测试结果表明,该系统切实可行。

• 单位
  西南交通大学希望学院