基于LVDS电路的预加重测试

作者：冉翠翠; 张磊; 马锡春; 何立

来源：电子质量, 2019, (11): 14-20.

• 预加重
• LVDS电路
• ATE测试

在高速LVDS集成电路的测试中,由于长距离、高速率下会带来能量损失,这种传输损耗会使信号的高频分量比低频分量损耗更大,而导致驱动能力不足等问题,故在集成电路设计中增加预加重,来补偿传输损耗。该文结合具有预加重功能的MAX3845电路,对可置位预加重管脚设置三种不同状态,通过ATE动态编程,结合预加重计算公式,计算预加重dB指数,验证电路预加重模块设计质量,进一步总结测试方法和结果。