一种基于直方图的ADC静态参数内建自测试设计方案

作者：朱洪宇; 李慧云; 徐国卿

来源：微电子学与计算机, 2012, 29(12): 112-115.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2012.12.026

• ADC
• 内建自测试
• 静态参数
• FPGA

本文提出了一种基于直方图(Histogram)的内建自测试(BIST)结构来测试ADC的静态参数,包括偏移误差(Offset Error)、增益误差(Gain Error)、积分非线性(INL)和微分非线性(DNL).BIST体系结构主要包括波形生成控制器、一个基于DDS的数字正弦发生器、一个数字三角波发生器和一个CPU核.三角波信号被用来作为激励信号,经过数字三角波发生器和DAC转换而成.这种ADC内建自测试方案可以通过编程实现重配置,主要包括ADC精度(与待测ADC有关)、激励信号波形类型、频率和初始相位.整个BIST通过FPGA开发板来实现,实验结果表明此BIST结构可以有效测试ADC的...

• 单位
  中国科学院深圳先进技术研究院