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摘要
TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良，是影响液晶显示产品品质的主要问题之一。G线与黑团会同时发生，有时也会单独发生，我们认为黑团与G线的产生有个共同原因：水汽渗入；该文重点讲述G线不良的分析内容。在显微镜下可明确G线的失效直接原因为框胶覆盖下的GOA电路走线区交换孔被腐蚀，这种腐蚀在新品以及量产阶段的信赖性实验中都经常发生。部分不良品在切割边可看到明显的破损痕迹，我们认为是由于外力作用下边框密封性变差而导致水汽渗入的。但大部分失效品在切割边见不到明显异常，失效分析难度较大，一直困扰着液晶显示行业的各大厂商。近年来，我们一直致力于此类问题的分析研究，最终明确了水汽渗入的路径，建立了失效模型，并给出了一些合理的改善建议。其中一些改善措施已经实施到本公司产品上，结果令人满意。
