电路特性测试系统的设计与实现

作者：刘清宇; 王彩红

来源：福建电脑, 2019, 35(12): 87-88.

DOI：10.16707/j.cnki.fjpc.2019.12.031

• 智能仪器
• 电路特性测试
• FPGA
• Qsys

随着智能测量仪器的迅速发展,对处理信号的速度和精度也提出了更高要求。本文针对电路特性测量的准确性、实时性的特点,设计了一种基于FPGA的电路测试系统,在Qsys系统中构建Nios II软核处理器。实验证明,本电路测试系统具有较高准确性,能够实时采集电路数据。

• 单位
  河南工业大学